2022-7-2 新型Velox 2.6探针台控制软件套件的6大优点
Velox已安装在600多个FormFactor探针台上。强大的客户关系和持续的进步使Velox软件成为探针台控制领域的领导者。这是新的Velox 2.6探针台控制软件版本的六大优势...
2022-7-2 EPS200MMW专用探头系统的5个优点
EPS200MMW探头系统可满足67 GHz以上,特别是200-300 GHz及更高频率的高级应用的测量需求。与EPS150MMW平台类似,EPS200MMW采用成熟的设计方法进行工程设计,以达到同类产品中最高的测量精度。...
2022-7-1 聚焦MeasureOne低温探测解决方案
FormFactor和Lake Shore Cryotronics之间的合作极大地加快了针对集体客户群的首次设备测量的时间,而早期研究通常需要对极冷和磁通量进行测试。...
2022-6-30 直流,射频和光学探头定位器,可实现最高精度的测量
探头定位器在提供精确测量中起着至关重要的作用。我们提供各种手动和电动探针定位器,适用于从DC到太赫兹测量的任何应用,以及我们的晶圆探针台以外的应用。专为高稳定性和准确性而设计。...
2022-6-30 在晶圆上测试Si和高级GaN / SiC器件时面临的
尽管GaN和SiC功率半导体(横向和垂直结构)的晶圆上测试方法与Si器件相似,但这些新型宽带隙器件需要扩展的测试能力...
2022-6-29 通过5G生产级测试克服3个挑战
随着5G的发展,我们完全致力于与领先的制造商合作,开发创新的测试和测量方法,这些方法将支持实现其令人兴奋的希望所需的庞大基础架构。这是要解决的3个挑战。...
2022-6-29 应对5G生产测试的挑战
随着5G测试内容的大量增加,我们正在开发方法,以在5G设备上提供快速,准确的测量并加快产品上市时间。测试5G设备的挑战在于如何在保持高吞吐量的同时测试包括更高频率在内的广泛频谱。 ...
2022-6-28 OptoVue Pro –通过实时原位校准缩短数据采
我们最近为CM300xi探针台推出了一些革命性的新型硅光子(SiPh)探针解决方案。这些新功能之一是专有的OptoVue Pro™,可在不移除当前被测试晶圆的情况下就地进行光学定位器校准...
2022-6-28 硅光子(SiPh)器件的新型边缘耦合探头解决方案
我们最近宣布了新的边缘耦合功能,这些功能增强了用于CM300xi探针台的硅光子(SiPh)解决方案,使我们能够扩展将光纤耦合到SiPh器件边缘的能力,以用于单个管芯和晶片。...