2022-7-17 使用Silicon Photonics解决数据中心能
Choon Beng Sia博士介绍了硅光子学设备的应用，这些新设备如何帮助降低数据中心的能耗，为何需要准确可靠的晶圆级光子学测试以及FormFactor如何帮助应对测试挑战SiPh器件。...
2022-7-16 动手应用程序培训，以提高可用性，吞吐量和准确性
我们的应用工程师是FormFactor探针，探针和测量应用的专家。它们可用于提供高级软件和硬件培训，以优化您的探测过程的可用性，吞吐量和准确性...
2022-7-16 引入CM300xi-ULN用于闪变噪声（1 / f）
我们很高兴推出CM300xi-ULN 300mm晶圆探测站，其设计用于高精度的低频闪烁噪声（1 / f），随机电报信号噪声（RTN / RTS）和超灵敏设备的相位噪声测量。...
2022-7-11 使用Infinity和InfinityXT探针提高工
Infinity探头通过确保在铝垫上进行更好的测量，减少重新探测和测量数据中的误差，树立了新的标准。了解它如何提高工程师的生产率。...
2022-7-11 用于4端口晶圆上探测的混合校准
对于4端口校准，我们将广为接受的LRRM校准与短开负载互通（SOLR）校准相结合，创建了一种混合校准，该校准利用了两种校准方法的优势来实现出色的4端口校准。 ...
2022-7-10 Katana-RF和Pyrana探针卡的4个主要优点
Pyrana和Katana RF探针卡可为高达10 GHz的RF器件以及对电感敏感的应用提供出色的信号完整性，低接地电感和单独兼容的触点。...
2022-7-10 处于先进封装测试的最前沿
FormFactor处于测试新的高级程序包的最前沿，并且与业界领先者合作，在他们制定解决集成和测试范围复杂性的策略时，我们正在帮助他们应对挑战。...
2022-7-9 从晶圆测试的角度来看，使小芯片成为主流技术的最大挑战
由于测试芯片的复杂性和覆盖范围的原因，单个小芯片对复合材料成品率下降的影响正在为晶圆测试带来新的性能要求。从测试的角度来看，使小芯片成为主流技术取决于确保以合理的测试成本获得“足够好的模具”...
2022-7-8 EPS200MMW专用探头系统的5个优点
EPS200MMW探头系统可满足67 GHz以上，特别是200-300 GHz及更高频率的高级应用的测量需求。与EPS150MMW平台类似，EPS200MMW采用成熟的设计方法进行工程设计，以达到同类产品中最高的测量精度...
