2023-7-27 半导体参数分析仪特点介绍
半导体参数分析仪是一种用于测试和分析半导体器件参数的专业仪器。它能够测量半导体器件的关键性质，并提供精确的数据分析和报告。在半导体技术领域中，参数分析仪扮演着至关重要的角色，帮助工程师们更好地了解和优化半导体器件的性能。...
2022-12-19 探针台,探针台测试,从晶圆测试角度来看，使小芯片（C
由于测试芯片的复杂性和覆盖范围的原因，单个小芯片对复合材料成品率下降的影响正在为晶圆测试带来新的性能要求。从测试的角度来看，使小芯片成为主流技术取决于确保以合理的测试成本获得“足够好的模具”...
2022-12-3 Cascade，自动化DC测量，具有智能接触功能的自
凭借 FormFactor 的Contact Intelligence技术，操作员可以在整个班次中（整夜甚至整个周末）开始测试并让系统保持测量状态，而无需任何用户干预。探针经过动态校正，以补偿温度变化时探针或设备的任何热膨胀，可实时准确地扎...
2022-12-3 PA200 BlueRay 概述
半自动或全自动高吞吐量测试 PA200 BlueRay™ 可实现光电（如 LED）、MEMS（比如压力传感器）和 RF（例如 SAW/BAW 滤波器）器件的高吞吐量功能测试。其精度可确保平稳的探针降落，具有安全、可重复的电接触。PA200...
2022-9-5 定制150毫米模块化探针台，价格从$ 13,880起
现在，您可以以低得难以置信的价格定制带有灵活模块的FormFactor 150毫米探针台！这使配置探头解决方案以满足当前和将来的需求变得更加容易。只需选择一个基站，然后根据需要添加任意数量的特定于应用程序的入门套件。...
2022-8-22 cascade探针台|启用和优化硅光子耦合
cascade探针台|硅光子学设备的测量需要光学以及高速数字功能。我们集成的SiPh解决方案允许对位于晶片上方的光纤进行亚微米处理，从而自动优化光纤耦合位置。...
2022-7-24 EPS200MMW专用探头系统的5个优点
EPS200MMW探头系统可满足67 GHz以上，特别是200-300 GHz及更高频率的高级应用的测量需求。与EPS150MMW平台类似，EPS200MMW采用成熟的设计方法进行工程设计，以达到同类产品中最高的测量精度...
