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  • Pyramid Accel测试夹具介绍

    2022-6-13 Pyramid Accel测试夹具介绍

    Pyramid Accel 测试程序调试夹具用于解决当今的 SoC 和 RF射频器件所带来的日益复杂的测试难题。它提供了一种独特的能力减少时间和成本,来开发准确、可预见的和可靠的生产测试程序,并缩短了 60% 多的产品上市时间。Pyrami...

  • Pyramid-MW 探针卡介绍

    2022-6-11 Pyramid-MW 探针卡介绍

    FormFactor 的 Pyramid-MW 探针卡是目前世界上仅有的一款毫米波 (mmW) 射频量产用探针卡 ,主要用于实现 57 GHz 至 81 GHz RFIC 的高可靠性、低成本、较长时间寿命的生产测试,确保高重复稳定的测量结果...

  • Pyrana 探针卡介绍

    2022-6-11 Pyrana 探针卡介绍

    对于高达 10 GHz 的 RF 器件和对电感敏感的应用,Pyrana 探针卡提供了出色的信号完整性、低寄生电感及较长使用寿命。Pyrana 探针卡整合了 Katana MEMS 探针技术和 Pyramid 薄膜技术,实现了新型针卡组合。P...

  • Katana-RF 探针卡介绍

    2022-6-10 Katana-RF 探针卡介绍

    Katana-RF 探针卡能满足最高10 GHz 频率的射频芯片和对寄生电感敏感的芯片的测试要求, 其特点是出色的信号完整性、极低的寄生电感及较长的使用寿命。Katana-RF 系列探针卡利用较长的使用寿命、维修便捷、可重复的稳定测试等特点...

  • Takumi探针卡介绍

    2022-6-10 Takumi探针卡介绍

    Takumi探针卡可实现在线工艺节点和末端工艺节点参数测试,使芯片制造商更早的了解他们设计的芯片,验证工艺性能,实现高良率。高精度的探针卡技术可确保芯片生产商采用更小的测试Pad尺寸来缩小晶圆切割道的宽度。...

  • Parametric 系列 Pyramid 探针卡介绍

    2022-6-9 Parametric 系列 Pyramid 探针卡介

    Parametric 系列 Pyramid 探针卡是高性价比的测试解决方案,兼容所有主流的参数测试机平台,实现 65 nm 和 45 nm等先进工艺参数测试要求。与传统技术的探针卡相比,FormFactor 的创新型 PyramidPlus...

  • Vx-MP 探针卡介绍

    2022-6-9 Vx-MP 探针卡介绍

    Vx-MP 探针卡支持高密度倒装式芯片测试,是尖端微处理器和 SoC 的首选产品。它的设计目标是:提供高信号保真度和电流承载能力,延长产品寿命和减少针卡维护工作量。 ...

  • TrueScale 探针卡介绍

    2022-6-8 TrueScale 探针卡介绍

    适用于advanced wire bond逻辑器件和 SoC 器件的 TrueScale™ 探针卡,为晶圆厂提供了高效率、高并行性和低成本的晶圆测试。TrueScale 探针卡可调整到低至 50 µm 焊盘间距,其扩充了先进测试设备的并行性...

  • Apollo 探针卡介绍

    2022-6-8 Apollo 探针卡介绍

    Apollo 垂直探针卡适合area-array 和perimeter-layout应用,包括flip chip 和pre-bump 或者aluminum pad应用。Apollo 是业界领先的首选倒装式芯片探针卡,适用于图形处理器、游戏机...

  • Cantilever探针卡介绍

    2022-6-7 Cantilever探针卡介绍

    为了满足消费者对于低价、低功耗和高连接性的便携式计算产品的需求,半导体行业加快了工艺和封装技术的发展。 虽然尖端半导体技术为低成本和低功耗应用提供了重要优势,但是它们也向晶圆测试提出了重大的挑战。例如,晶圆测试面临着严格的电气性能要求...

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