2022-5-27 cascade InfinityXT探针 高频/高温
InfinityXT增强并扩展了FormFactor业界领先的Infinity探针系列，该系列已为器件特性描述和建模中的准确性和可重复性建立了行业标准。新的InfinityXT系列以更高的温度范围，更好的针尖可见性和耐用性，以及随着市场的发...
2022-5-27 cascade IZI探针-PCB介绍
灵活性对于实现高效 PCB 和陶瓷测试是很关键的。|Z| Probe® PCB 的对准和处理很简单，而且可以容易地定位。它以最佳的方式替代了常常缺乏灵活性的昂贵测试夹具。稳健的设计可使 |Z| 探针 PCB 易于处理，并提供了长工作寿命（通...
2022-5-25 cascade Eye-Pass 探针介绍
多触点 Eye-Pass 探针提供了受控阻抗电源连接，从而实现了最棘手电路的晶圆功能测试。高耐用性复合多指针尖提供了很高的合规性，并保证了精确的对准。这款定制探针使得用户能够选择最适合应用的焊脚图形，且每个探针头具有多达 12 个触点。可提...
2022-5-25 cascade T-Wave 探针介绍
业界领先的毫米和亚毫米波长器件在片测试性能。T-Wave 探针设立了毫米波器件特性分析的业界标准。这款探针在测试金pad时提供了低插入损耗和低接触电阻。具有极佳的针尖可见性。能够对 1.1 THz 器件进行特性分析。典型插入损耗 < 1.5...
2022-5-23 cascade ACP-Q探针介绍
Quadrant 探针是应单个模块中的多探针针尖需求而开发的。其配置包括所有的 RF 或 RF 与 DC 的组合。RF 探针是运用气动共面技术制成了一种稳固的微波探针，这种微波探针具有一个符合标准的针尖，旨在实现准确、可重复的在片测试。DC...
2022-5-23 cascade unity探针介绍
多触点 Unity 探针为 RFIC 工程测试提供了高度灵活的可配置性、前所未有的耐用性和易用性。与“屈从订单”的探针解决方案不同，Unity 探针是利用一个具有多个独立合规叉指的精准针尖簇（以使片式组件与探查应力相隔离，从而最大限度地延长...
2022-5-20 cascade 高压探针介绍
FormFactor的高功率探针提供了一个完整的功率半导体晶圆上测试的过热，低接触电阻的解决方案，结合Tesla系列在晶圆上功率器件表征系统，FormFactor的高功率探针可实现高达300 A和10,000 V的可靠且可重复的晶圆上测量。...
2022-5-20 cascade DC-Q探针介绍
DC-Q 探针采用受控阻抗的陶瓷刀片针，以实现低噪声和高性能。这种 针形允许布设具有非常小串联电感的高质量旁路电容器，因为它们很靠近 探针针尖。所有的针均连接至一个公共接地平面，但是可以容易地对个别的针 进行（接地）隔离，以实现额外的...
2022-5-18 cascade T300 – 半自动探针台介绍
T300半自动探针台提供300mm功率器件测量解决方案，用于高达3kV（三轴）/10kV（同轴）和200A（脉冲）/10A（DC）的功率半导体变温测量，低接触电阻。提供低噪声，完全保护和屏蔽的测试环境，以及符合人体工程学的透明外壳或红外激光...
2022-5-18 cascade T200探针台介绍
T200功率器件表征系统提供完整的晶圆级测量方案，用于高达3kV（三轴）/10kV（同轴）和200A（脉冲）/10A（DC）功率半导体测量，低接触阻抗，同时提供低噪声和屏蔽的测试环境，并集成经安全认证的符合人体工程学的透明外罩或红外激光防护...
