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定制的150 mm探针台可满足研究设施的特定需求

2022/7/23 14:15:24      点击:

定制的150 mm探针台可满足研究设施的特定需求

        我们为同类最佳的150 mm探针台引入了模块化概念。这将使您可以以难以置信的价格轻松配置自己的探头解决方案,以满足当前和未来的需求。只需选择一个基站并添加许多特定于应用程序的入门套件

Genius Education Kits - Turn-key 150 mm S-parameter Probe Station

        工程研究机构可能会从事各种各样的技术追求,但是它们在测试和测量方面有着共同的需求:它们都需要具有最佳性能的设备,但仍易于访问和使用,同时还要提供测试结果的最高置信度。

        我们为同类最佳的150 mm探针台引入了模块化概念。这将使您更轻松地为当前和将来的需求配置单独的探头解决方案以不可思议的价格。只需选择一个基站,然后添加所需数量的特定于应用程序的入门工具包即可自定义系统。每种配置都针对特定的测试和测量应用领域。这些可能包括:

  • 简历/ IV:在理想的安静干燥环境中,通过优化的全三轴设计,IV / CV测量解决方案降至fA级别。采用开尔文(Kelvin)连接的低噪声卡盘,以及三轴探头臂和电缆,可提供高度的测量可信度。
  • RF /毫米波:我们的封装式RF解决方案能够在25 µm x 35 µm的焊盘上精确放置探头,并具有1 µm的接触重复性。从三种RF探针技术中进行选择,以实现针对最广泛应用范围的最佳解决方案。WinCal XE™软件提供LRRM和LRM +方法卓越的校准精度。
  • 太赫兹测量:量身定制的解决方案,可满足太赫兹频率范围内有源和无源组件的测量需求。它可实现最高的动态范围和方向性,而所有这些都不会影响电气精度或机械稳定性。
  • 晶圆上功率器件的表征:高压探测解决方案,可测试高达3,000伏的击穿电压,以及高达40安培的高电流探测,以实现最低的通态电阻。屏蔽环境可降低噪音并提供安全的操作条件。
  • 失败分析(FA):电气故障验证,定位和调试,能够探测小于1 µm的特征。可以在几秒钟内适应从晶圆到芯片到封装的研究,从而最大程度地缩短了数据采集时间并最终缩短了产品上市时间。

您可以选择适合您特定需求的预配置解决方案,并以最少的设置时间启动并运行。我们还提供多种所有权选项,以满足您的特定要求。我们也了解致力于研究的实验室在广泛的管理条件下运作。

有关我们的更多信息模块化150毫米探针台,配置,选项和价格,您可以联系我们。

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