推出RFgenius晶圆上S参数测量套件

        FormFactor的RFgenius晶圆上S参数测量套件包括以实惠的价格实现精确测量所需的所有关键组件-从探测站到网络分析仪，应有尽有。所有经过验证并证明可以提供领先的性能测量。

        我们的RFgenius晶圆上S参数测量包包括以合理的价格实现精确测量所需的所有关键组件 – 从探测站到网络分析仪。所有这些都经过验证并证明可提供领先的性能测量。这个入门级系统是大学和学校的完美，易于购买的选择，实验室空间最小。

RFgenius软件包包括执行高度精确测量的所有关键组件。不仅是探针台，探针，定位器，电缆，校准基板和校准软件，还有矢量网络分析仪（VNA） – 业界首创。

该解决方案的性能范围得到了进一步增强，远远超出了简单的产品包。这些组件的完美集成，与先进的人体工程学设计和易于操作的控制相结合，确保了最佳的可用性和高度精确的测量。你得到：

1. 150毫米手动探针台：

• • RF卡盘+/-3μm表面平面度
  • 独特的200μm压板接触/分离行程，精度小于或等于1μm，可重复接触
  • 精准的探针对准
  • 一致的接触力和超行程
  • 稳定的接触性能

1. 是德科技VNA：

• • 宽频率覆盖范围：4.5,6.5,9,14,20,26.5 GHz
  • 全2端口VNA
  • 小巧紧凑的外形
  • 所有可靠的Keysight VNA都具有相同的校准和计量功能
  • Keysight VNA的通用GUI
  • 能够扩展端口数量

1. 探头和电缆：

• • 无限探头– 最适合AI（Si）
  • ACP探针– 最适合AU（III-Vs）
  • | Z | 探测– 坚固的解决方案，使用寿命长
  • 精确接触各种材料
  • 准确的测量结果和卓越的串扰特性
  • 包含了匹配的电缆和衬底

1. 校准工具：

• • 独有的 1、2、3 和 4 端口晶圆上校准算法
  • 自动化校准监视
  • 独特的测量和分析方法
  • 准确的S参数测量
  • 自动校准设置用于提高效率
  • 简便快捷的数据解释和报告

您将获得这个完整的软件包，以及可用的支持，安装和培训。无论您是进行关键测量还是只想学习如何进行晶圆上的S参数测量，我们都拥有所需的测试专业知识，可帮助您取得成功。