Daniel Bock博士和David Raschko最近在SWTest 2021会议上发表了一篇论文。他们的演讲 - 数字革命：NRZ到PAM4 - 赢得了会议的最佳整体演讲。

随着处理更多数据并通过服务器、蜂窝设备甚至计算机内部传递大量数据以获得最高性能视频卡的需求不断增加，对更复杂的数字处理的需求比以往任何时候都要大。本演示通过示例探针卡展示了NRZ（不归零）通信模式与PAM4（4级脉冲幅度调制）相比对晶圆测试的一些影响，并描述了不断变化的测试要求。

该演示文稿涵盖了 PAM4 的所有新功能，包括时间表以及为什么需要它。他们 回顾 了 数字 测试 的 当前 现状 – NRZ ， 以及 NRZ 对 插入 和 回波 损耗 的 敏感 度。它们解决了如何最好地管理数字测试并共享性能，包括测试（直接连接到测试仪通道）、环回测试（从DUT TX到RX的信号）和环回抽头（环回高速和测试仪路径上低速的组合）。

PAM4与NRZ的要求表明，探针卡规格应比NRZ探针卡更严格。通过抽头到测试仪进行环回是可能的，但在设计中需要小心，并且可能有局限性。在一天结束时，我们的产品已经准备好迎接向PAM4迁移所带来的挑战，这要归功于定制解决方案，包括用于高速数字测试的下一代MT系列探头，可在2021年底前进行评估。