与Keysight A-LFNA集成的全面交钥匙测量系统（IMS）
用于晶圆级先进低频噪声测量研发

FormFactor和Keysight应用专家将一起帮助您配置一个强大、完整的解决方案，包括：

• FormFactor探针台: CM300xi-ULN, SUMMIT200 （其他可选）
• 手动、半自动和全自动探针台选项
• FormFactor工程探针：手动或电动定位器上的DCP系列探针（其他可选）
• FormFactor DC自动化软件：自动DC测量，可实现在小Pad上的无人值守变温测量
• 从-60℃到+300℃的全温度范围自动变温测量
• Keysight高级低频噪声分析仪（A-LFNA）：E4727B
• Keysight自动化及建模软件：PathWave WaferPro（WaferPro Express）
• 完成系统需增加：电缆、适配器、安装硬件等。

业界最高效、最精确的先进低频噪声测量系统

晶圆级1/f噪声测量是任何表征和建模测试系统的关键组成部分。由于所需的灵敏度，此类测试很容易受到测试系统外部或内部干扰的破坏。要克服这些挑战，需要来自行业领先的测试和探测解决方案提供商提供的精心设计设备，进行合作以在超低频谱噪声环境中提供高灵敏度的测量。来自行业领导者Keysight的紧密集成仪器使系统更加完善，以提供最佳的测量精度和可重复性。

实现高质量测量最快捷、最安全、最经济的途径

预验证、交钥匙、全面的、集成的FormFactor测量系统，可为重要的测试应用提供安心和即时、开箱即用的生产力。

可免费提供这些益处。FormFactor的IMS解决方案没有对Keysight产品或集成费用的加价。

世界上唯一先进低频噪声测量系统，其建立于研发仪器仪表行业的第一领导者和分析探测系统的第一领导者基础之上——FormFactor IMS-K-LFN。