引入CM300xi-ULN用于闪变噪声（1 / f），随机电报噪声（RTN）和超灵敏设备的相位噪声测量

        我们很高兴推出CM300xi-ULN 300mm晶圆探测站，其设计用于高精度的低频闪烁噪声（1 / f），随机电报信号噪声（RTN / RTS）和超灵敏设备的相位噪声测量。

        随着面向5G及更多应用的5、3和2 nm技术节点的下一代设备的出现，需要新的噪声测试功能。较小的器件几何尺寸和较低的工作电压，再加上较高的工作频率和较高的数据速率，已经提高了精确闪烁（1 / f）噪声测试和分析的重要性。低频噪声（尤其是难以测量的噪声）对于表征先进材料和验证IC性能极限已变得越来越关键。

我们推出了革命性的技术，通过革命性的技术增强了行业领先的CM300xi，以满足这些新兴的测试需求。CM300xi-ULN 300mm晶圆探测台设计用于高精度的低频闪烁噪声（1 / f），随机电报信号噪声（RTN或RTS）以及超敏感设备的相位噪声测量。全新的超低噪声探测站采用了获得专利的PureLine™3技术，可将噪声降低多达32倍，从而改善了针对5G及以后应用的5、3和2 nm技术节点的设备特性和设备建模。

        当与噪声测试设备（闪烁噪声，RTN，相位噪声）集成时，CM300xi-ULN可提供业界最高的测试吞吐量，Contact Intelligence™带有电动探头定位器，可完全实现自主的直流和低频噪声探测具有多个DUT布局，可实现完全的免提24/7操作。

        最后，CM300xi-ULN降低了低噪声TestCell优化的复杂性。只需将其插入即可。低噪声现场勘测和系统验证大大降低了安装成本和工具部署时间。这使实验室工程师可以专注于获得良好的设备数据，这些数据可用于减少昂贵的重新设计次数并以较低的开发成本加快产品上市时间。

        我们的工程师继续开拓新的精密电气测量技术，ULN展示了这些进步。革命性的CM300xi-ULN探测站在晶圆上，超低闪烁，RTN和相位噪声测试领域取得了四个重要的行业“第一”，包括：

• 首个实现-190dB频谱噪声的自动探针台（典型结果，dBVrms /√Hz，1kHz至1MHz，已启用探针和热系统）
• 首个集成TestCell电源管理的探针台
• 第一个在30um焊盘上实现自主闪烁噪声热测试的探针台
• 第一个探针台具有客户现场调查和“低噪声”安装验证

有关更多信息，请联系我们。