Multi |Z| Probe® 是 RF / 微波多端口和数字信号测试中的一个新维度。它运用了与其他 |Z| 探针相同的专利技术,但是在一个探针上能够传输多达 16 个 RF / 微波信号。此外,可在探针上混合DC 和 RF / 微波信号,从而使您能够基于RF 信号添加电源。
当必须用单个探针接触若干个单独的pad时,接触结构必需完全对准。由于运用了 MEMS 技术,因此 Multi |Z| 探针能接触最多 35 个pad。而且,pad高度的微小差异可很容易地通过独立触点的弹簧式移动来克服。
如果需要,Multi
|Z| 探针可通过配置为您的 DC
测试应用测试 DC
信号。对于单端应用,请查看
|Z| 探针的相关信息。对于仅需两个信号的应用,可使用
Dual |Z| 探针。另外,对于大量RF 测试,还可以将 Multi |Z| 探针集成到 |Z| 探针卡中